恒溫恒濕箱也稱(chēng)為恒溫恒濕試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)、恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱或恒溫機(jī)，適用于電子電工產(chǎn)品、儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)、低溫恒溫及儲(chǔ)存；可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱特別適用于光纖、晶體、精密電感、PCB、LCD等產(chǎn)品的高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)。

執(zhí)行與滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)
1. GB/T10589-1989 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
2. GB/T11158-1989 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3. GB/T10592-1989 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
4. GB/T2423.1-2001 IEC60068-2-1試驗(yàn)A規(guī)程: 低溫試驗(yàn)方法
5. GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2試驗(yàn)B規(guī)程: 高溫試驗(yàn)方法
6. GB/T2423.22-1987試驗(yàn)Nb溫度變化試驗(yàn)方法
7. GJB150.3-1986高溫試驗(yàn)
8. GJB150.4-1986低溫試驗(yàn)
9. IEC68-2-14 試驗(yàn)

恒溫恒濕箱可分為臺(tái)式和立式兩種，其主要區(qū)別在于所能夠?qū)崿F(xiàn)的溫度與濕度不同，進(jìn)而對(duì)溫度產(chǎn)生影響，導(dǎo)致溫度的不同，立式的恒溫恒濕箱可以做常溫以下的低溫和干燥，臺(tái)式的則相反，只能做常溫以上的溫度和高濕。

在濕熱測(cè)試中，難免會(huì)出現(xiàn)目標(biāo)濕度與實(shí)際濕度不相符的情況，以下便列出當(dāng)這種情況出現(xiàn)時(shí)，操作員該如何應(yīng)對(duì)：

1.恒溫恒濕箱中實(shí)際濕度低于目標(biāo)濕度，當(dāng)出現(xiàn)這種情況時(shí)，有可能是加濕系統(tǒng)出現(xiàn)了問(wèn)題，需要對(duì)加濕系統(tǒng)中的供水系統(tǒng)進(jìn)行檢查，查看供水系統(tǒng)里的水量是否滿(mǎn)足要求，水位的控制是否正常；如以上問(wèn)題都排除了，那么就需要專(zhuān)業(yè)人員對(duì)電器控制系統(tǒng)進(jìn)行檢查，排除故障。

2.顯示的實(shí)際濕度遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于設(shè)置的濕度值，這種情況的可能是由于濕求紗布使用的時(shí)間太長(zhǎng)可，或是某些原因?qū)е录啿甲冇?，從而無(wú)法吸水而干燥；這時(shí)只需要清洗紗布或?qū)⒓啿几鼡Q即可。

在我們?nèi)粘Ｊ褂煤銣睾銤裣鋾r(shí)，應(yīng)當(dāng)注重細(xì)節(jié)，按照操作規(guī)程正確的進(jìn)行操作設(shè)備；對(duì)設(shè)備進(jìn)行定期的維護(hù)，保證試驗(yàn)箱整潔以預(yù)防銹蝕，有效的減少試驗(yàn)設(shè)備使用時(shí)出現(xiàn)故障，延長(zhǎng)試驗(yàn)箱使用壽命。